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美國DeFelsko 非(fei)金屬(shu)材料超(chao)(chao)聲波涂(tu)層(ceng)測厚儀(yi)-PosiTector200C可(ke)(ke)用于(yu)測量(liang)混泥土、玻(bo)璃鋼(gang)上的涂(tu)層(ceng)，可(ke)(ke)在同一測量(liang)點(dian)上連(lian)續顯示讀數(shu)，保證測量(liang)的準確性和重復性，通用型主機，可(ke)(ke)連(lian)接所有PosiTector 6000,200，SPG，DPM和UTG探頭(tou)，可(ke)(ke)以輕易從測厚儀(yi)轉化為(wei)表面粗糙度儀(yi)，露點(dian)儀(yi)或(huo)超(chao)(chao)聲波測厚儀(yi)

更新日期：2023-06-04

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MiniTest 700系(xi)列(lie)涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)提(ti)供三款機型分別德國(guo)EPK MiniTest 725涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)具有內(nei)置探(tan)(tan)頭(tou)(tou)，德國(guo)EPK MiniTest 735涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)及帶外置探(tan)(tan)頭(tou)(tou)結合了(le)精度(du)高、易(yi)于測(ce)量。該有線探(tan)(tan)頭(tou)(tou)可(ke)以(yi)很(hen)方(fang)便(bian)的(de)測(ce)量難以(yi)夠到(dao)的(de)地方(fang)。德國(guo)EPK MiniTest 745涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)是該系(xi)列(lie)的(de)top型號 - 得益于其(qi)靈活(huo)的(de)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)設計。其(qi)內(nei)置的(de)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)可(ke)以(yi)很(hen)容易(yi)地轉化為外置的(de)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)。

更新日期：2023-11-14

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MiniTest 700系(xi)列(lie)涂層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)提(ti)供三款機型(xing)分別德(de)國EPK MiniTest 725涂層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)具(ju)有內置探(tan)(tan)頭(tou)，德(de)國EPK MiniTest 735涂層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)及帶外(wai)置探(tan)(tan)頭(tou)結(jie)合了精度高、易于測(ce)(ce)量。該有線(xian)探(tan)(tan)頭(tou)可(ke)以很方(fang)便的(de)(de)測(ce)(ce)量難(nan)以夠到的(de)(de)地方(fang)。MiniTest 745涂層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)是該系(xi)列(lie)的(de)(de)top型(xing)號 - 得益于其靈活的(de)(de)探(tan)(tan)頭(tou)設(she)計。其內置的(de)(de)探(tan)(tan)頭(tou)可(ke)以很容易地轉化為外(wai)置的(de)(de)探(tan)(tan)頭(tou)。

更新日期：2023-11-14

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MiniTest 700系列(lie)涂(tu)層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)提供三款機型分別德國(guo)EPK MiniTest 725涂(tu)層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)具有(you)內置(zhi)探頭(tou)(tou)，MiniTest 735涂(tu)層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)及帶外置(zhi)探頭(tou)(tou)結合了精(jing)度高、易于(yu)測(ce)量。該有(you)線(xian)探頭(tou)(tou)可以很方便的測(ce)量難(nan)以夠到(dao)的地方。MiniTest 745涂(tu)層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)是該系列(lie)的top型號 - 得益于(yu)其靈活的探頭(tou)(tou)設計。其內置(zhi)的探頭(tou)(tou)可以很容(rong)易地轉化(hua)為外置(zhi)的探頭(tou)(tou)。

更新日期：2023-11-14

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德(de)國EPK MiniTest 7400 涂層測厚(hou)儀采用(yong)直觀的(de)菜單控制及與上下文相關(guan)的(de)聯(lian)機(ji)幫助，使用(yong)簡易。大(da)背光按鍵，即(ji)使戴著手套操作，也(ye)倍感舒適。大(da)背光圖(tu)形(xing)顯示頻提供很好的(de)觀察效(xiao)果，即(ji)使在晚上或能見度極(ji)低的(de)條件下使用(yong)也(ye)極(ji)其方便。

更新日期：2023-11-14

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日(ri)立CMI760鍍層(ceng)測(ce)厚儀一臺設備(bei)測(ce)試銅(tong)箔、覆銅(tong)板、表面銅(tong)、銅(tong)線條(tiao)和孔(kong)壁(bi)銅(tong)厚度，并采(cai)用(yong)統計軟件顯示(shi)測(ce)試數據。該儀器具(ju)(ju)備(bei)可(ke)擴展(zhan)性(xing)，能夠實(shi)施微電(dian)阻和渦電(dian)流測(ce)試,以高(gao)精(jing)度測(ce)量銅(tong)厚。并提供選購的附件來(lai)(lai)測(ce)量孔(kong)銅(tong)厚度。CMI760包括(kuo)帶系繩和用(yong)戶可(ke)更(geng)換 SRP-4 探針，帶來(lai)(lai)額外的便利(li)性(xing)且更(geng)具(ju)(ju)成(cheng)本效益。此探針包含(han)4個牢固封入的插(cha)腳(jiao)，這—設計不僅實(shi)現了耐用(yong)還(huan)可(ke)抗破裂和磨損。

更新日期：2023-09-20

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日立CMI563手持式鍍(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀采用微電阻(zu)技(ji)術(shu)，可對(dui)表面(mian)銅(tong)(tong)覆銅(tong)(tong)板(ban)、化學銅(tong)(tong)或(huo)有電鍍(du)銅(tong)(tong)的精確厚(hou)度測(ce)量(liang)，同(tong)時確保PCB的背面(mian)銅(tong)(tong)箔不(bu)會(hui)干(gan)擾到讀數(不(bu)考慮覆銅(tong)(tong)板(ban)的厚(hou)度)。我們的CM563可對(dui)柔性(xing)或(huo)剛性(xing)的單面(mian)、雙面(mian)或(huo)多層(ceng)板(ban)材實(shi)施表面(mian)銅(tong)(tong)厚(hou)度測(ce)量(liang)。

更新日期：2023-09-20

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日立(li)CMI511手持式孔銅(tong)測(ce)厚儀采(cai)用(yong)電(dian)(dian)渦流原(yuan)理主要用(yong)來測(ce)量(liang)(liang)(liang)孔內鍍銅(tong)厚度并帶有溫度補償功(gong)能(neng)銅(tong)箔厚度測(ce)量(liang)(liang)(liang)，該功(gong)能(neng)可減(jian)少廢料并避免昂(ang)貴的(de)返工。該儀表的(de)自動溫度校(xiao)正可實現其應(ying)有的(de)準確性，即使(shi)對(dui)已經從(cong)電(dian)(dian)鍍槽中(zhong)提起的(de)板材(cai)，也能(neng)準確測(ce)量(liang)(liang)(liang)。它可測(ce)量(liang)(liang)(liang)雙面或(huo)多層板材(cai)，即使(shi)對(dui)于(yu)采(cai)用(yong)錫(xi)(xi)和錫(xi)(xi)/鉛(qian)電(dian)(dian)鍍的(de)板材(cai)，也能(neng)實現準確測(ce)量(liang)(liang)(liang)。提供(gong)即時測(ce)量(liang)(liang)(liang)功(gong)能(neng)，易(yi)于(yu)使(shi)用(yong)，操作員無需進行相關培(pei)訓。

更新日期：2023-09-20

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