日立CMI760鍍層測厚儀
簡要描述(shu):日立(li)CMI760鍍層測厚(hou)儀(yi)一臺設備(bei)測試(shi)(shi)(shi)銅(tong)(tong)箔、覆銅(tong)(tong)板、表面銅(tong)(tong)、銅(tong)(tong)線條和孔(kong)壁銅(tong)(tong)厚(hou)度,并(bing)采(cai)用(yong)統計軟件(jian)(jian)顯示(shi)測試(shi)(shi)(shi)數(shu)據。該儀(yi)器具備(bei)可擴展性,能夠實施微電阻和渦電流測試(shi)(shi)(shi),以高精(jing)度測量銅(tong)(tong)厚(hou)。并(bing)提供選購的(de)附件(jian)(jian)來測量孔(kong)銅(tong)(tong)厚(hou)度。CMI760包括(kuo)帶(dai)系繩和用(yong)戶(hu)可更換 SRP-4 探針,帶(dai)來額外(wai)的(de)便利性且(qie)更具成本效益。此探針包含(han)4個牢固(gu)封入的(de)插(cha)腳,這—設計不僅實現(xian)了耐用(yong)還可抗(kang)破裂和磨損。
- 更新時間:2023-09-20
- 訪(fang) 問(wen) 量:266
品牌 | Hitachi/日立 | 價格區間 | 面議 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
日立CMI760鍍層測厚儀一臺設備測試銅箔、覆銅板、表面銅、銅線條和孔壁銅厚度,并采用統計軟件顯示測試數據。該儀器具備可擴展性,能夠實施微電阻和渦電流測試,以高精度測量銅厚。并提供選購的附件來測量孔銅厚度。
日立CMI760鍍層測厚儀包括帶系繩和用戶可更換 SRP-4 探針,帶來額外的便利性且更具成本效益。此探針包含4個牢固封入的插腳,這—設計不僅實現了耐用還可抗破裂和磨損。其透明外殼便于在小型軌跡上放置探針。系繩電纜適合于現場應用,并且其占用很小的面積,從而帶來便利性。
選購的ETP探頭
借助ETP探(tan)頭,CMI760可(ke)通過渦電(dian)流進行操作。無論板(ban)(ban)(ban)材(cai)具有(you)多(duo)少(shao)層(ceng),此(ci)探(tan)針(zhen)均可(ke)產生(sheng)準確的(de)(de)讀數(shu),并且在如下情況(kuang)中均有(you)相同(tong)的(de)(de)良好測量表現︰雙面或多(duo)層(ceng)板(ban)(ban)(ban)材(cai)、蝕(shi)刻前后的(de)(de)板(ban)(ban)(ban)材(cai),以及采用錫和錫/鉛電(dian)鍍(du)的(de)(de)板(ban)(ban)(ban)材(cai)。該儀表也提供溫度補償功能,可(ke)即時(shi)測量從電(dian)鍍(du)槽中提起的(de)(de)板(ban)(ban)(ban)材(cai)。
型號 | CMI95M | CMI165 | CMI511 | CMI563 | CMI760 |
技(ji)術 | 微電阻 | 微電阻 | 電渦流(liu) | 微電阻 | 微電(dian)阻(zu) |
銅(tong)箔(bo) | ? | ? | ? | ? | |
覆銅板(ban) | ? | ? | ? | ? | |
銅 - 表(biao)面(mian) | ? | ? | ? | ||
銅 - 細(xi)線(xian) | ? | ? | ? | ||
孔銅 | ? | 可選 | |||
溫度補償 | ? | ? | ETP 探頭 | ||
可替(ti)換探頭 | 無(wu) | ? | ? | SRP-4 探頭(tou) | |
單位選擇 | oz 或 µm | mil 或 µm | mil 或(huo) µm | mil 或 µm | mil 或 µm |
銅(tong)厚度范(fan)圍 - µm | 8個指示燈: 5-140 | 非電鍍: | 2-102 | 非電鍍: | 表面銅: |
銅厚(hou)度范(fan)圍 - mil | 非電鍍: 0.01-0.5 電鍍: 0.1-10 | 0.08-4 | 非電鍍: 0.01-0.5 電鍍: 0.01-6 | 表面銅: 0.01-10 孔銅: 0.08-4 |
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