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超聲厚度測量術語匯編

2023-10-31 [168]

準確度:某個參數(如(ru)厚度)的測量值與真實(shi)值之間的一致性。

聲阻抗:定義為聲速乘以密度(du)的(de)一(yi)種材料屬性(xing)。兩種材料之間邊界(jie)處(chu)的(de)聲波反(fan)射量(liang)基于聲阻抗的(de)比率(lv)得出。

波幅:波幅是指在(zai)聲波運動中物質粒(li)子(zi)的(de)最大位(wei)移。在(zai)電(dian)子(zi)學中,信號的(de)大小,通常表示(shi)為(wei)正電(dian)壓或負電(dian)壓。

衰減:聲程上任何(he)兩(liang)點之間發生的(de)聲能損(sun)失。

底面回波:從(cong)被測樣件(jian)(jian)的(de)底面(mian)(mian)反射的(de)聲(sheng)波,底面(mian)(mian)與(yu)探頭(tou)和被測樣件(jian)(jian)耦(ou)合接觸(chu)的(de)面(mian)(mian)正好相(xiang)對(dui)。對(dui)這個(ge)回(hui)波的(de)計(ji)時對(dui)應于工件(jian)(jian)在這個(ge)點上(shang)的(de)厚(hou)度。

接觸式探頭:接(jie)觸式探頭在使用時與被(bei)測材(cai)料直接(jie)接(jie)觸。

耦合劑:用于(yu)探(tan)頭和被測(ce)件之間(jian)(jian)的(de)(de)一種材料,通常是液體或(huo)凝膠,目的(de)(de)是消除探(tan)頭和被測(ce)樣件之間(jian)(jian)的(de)(de)空(kong)氣并促進聲能(neng)的(de)(de)耦合。

延遲塊:放(fang)置在(zai)探頭前面的一種材料(通常是塑料),目(mu)的是在(zai)激勵脈沖和來自被測樣件表面的回(hui)波之間創(chuang)建時間延遲。

延遲塊探頭:包含延遲塊的一種探頭。

雙晶探頭:發射晶片和接收晶片分開放(fang)置的探頭,常用于腐蝕測量。

激勵脈沖:施加到超(chao)聲探頭中的(de)壓(ya)電(dian)晶片上(shang)的(de)短暫電(dian)脈沖,使(shi)晶片振動并產生聲波。也(ye)戲稱為(wei)“大爆炸"。

頻率:振蕩體在一定時(shi)間段內(通常(chang)為一秒)經歷的振動周(zhou)期數。在電學上,頻率是指周(zhou)期信(xin)號(hao)(例(li)如正弦波)在一定時間段內重復的速率(lv)。

增益:在超(chao)聲(sheng)測厚儀中,增益是指由放(fang)大器產生(sheng)的信號強度的增加,通(tong)常表示為輸出功率(lv)與輸入功率(lv)的比率(lv),單位為分貝。

水浸檢測:通過水層或水槽將聲(sheng)能(neng)從(cong)探頭耦合到被測材料中的一種檢測方法。

水浸探頭:用于水(shui)浸(jin)檢測的(de)探頭。

界面回波:使用延遲塊或水(shui)浸探(tan)頭時,可以觀察到的從被測樣(yang)件表(biao)面反射的回波。

縱波:一種聲(sheng)波傳播模式,通常用于(yu)超聲(sheng)測厚,特點是粒子運(yun)動平行于(yu)聲(sheng)波傳播的方向。可聽到的聲(sheng)波也屬(shu)于(yu)縱(zong)波。

測量模式:在厚度測量中(zhong)計時回(hui)波的方法,通常分為模式1、模式2和模式3。

相位顛倒:聲(sheng)波正負峰值位(wei)置(zhi)顛倒的情況。

范圍:使用特(te)定探(tan)頭和儀(yi)器設置(zhi),可以測量(liang)的材料最大厚(hou)度和最小厚(hou)度之(zhi)間的范圍。

分辨率:在(zai)厚(hou)度測量中(zhong),可以區分略微不同的厚(hou)度或時間間隔(ge)的程度。

聲速:聲波在(zai)特定材料中傳播的速度。

聲波:是在固體(ti)、液體(ti)或氣體(ti)介質中機械振動(dong)的一種連貫(guan)模式。

探頭:是(shi)將一(yi)種形式的(de)能(neng)量(liang)轉換(huan)為另一(yi)種形式能(neng)量(liang)的(de)裝(zhuang)置。在(zai)超聲檢測中,通常是(shi)指將電能(neng)轉換(huan)為機械能(neng),或將機械能(neng)轉化為電能(neng)。

超聲波:指頻率高于人類(lei)聽覺(jue)極限(xian)的聲波(bo),一(yi)般定義為每(mei)秒20000次(20 KHz)。

波形:波列中能量水平(ping)的圖(tu)形表現(xian),基于波幅與(yu)時間的關(guan)系繪制。

零位偏移:一種校正因子,代表測厚儀測到的(de)時間與聲波在被(bei)測樣件中(zhong)實際(ji)傳(chuan)播時間之(zhi)間的(de)差異,一般因轉換延遲(chi)、電纜延遲(chi)及防磨板和耦合劑的(de)厚度引起